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Jordan Valley公司新設(shè)計的Delta-X是多功能的X射線衍射設(shè)備，可靈活應(yīng)用于材料科學研究、工藝開發(fā)、與生產(chǎn)質(zhì)量控制。Delta-X衍射儀的光源臺和...

InSight AFP是世上性能*高、行業(yè)首-選的先進技術(shù)節(jié)點CMP輪廓和蝕刻深度計量系統(tǒng)。將其現(xiàn)代尖-端掃描儀與固有的穩(wěn)定電容式壓力計和精確的空氣軸承定位系統(tǒng)...

海思創(chuàng)TI 980 TriboIndenter納米壓痕儀是布魯克先進的納米力學測試設(shè)備，同時具有高的性能、靈活性、可信度、實用性和速度。TI 980納米壓痕儀是...

InSight AFP是世上性能*高、行業(yè)首-選的先進技術(shù)節(jié)點CMP輪廓和蝕刻深度計量系統(tǒng)。將其現(xiàn)代尖-端掃描儀與固有的穩(wěn)定電容式壓力計和精確的空氣軸承定位系統(tǒng)...

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探針式表面輪廓儀在嚴格的質(zhì)量保證與控制下獲得300mm性能檢測;可容納多大350mm*350mm的樣品，將Dektak有意的可重復性和再現(xiàn)性應(yīng)用于大尺寸晶片及面...

Dektak XTL 嚴格的質(zhì)量保證與控制下獲得300mm性能檢測;可容納多大350mm*350mm的樣品，將Dektak有意的可重復性和再現(xiàn)性應(yīng)用于大尺寸晶片...

Dektak XTL 嚴格的質(zhì)量保證與控制下獲得300mm性能檢測;可容納多大350mm*350mm的樣品，將Dektak有意的可重復性和再現(xiàn)性應(yīng)用于大尺寸晶片...

布魯克探針式表面輪廓儀（又稱“臺階儀"）歷今四十載，積累大量專有技術(shù)。從傳統(tǒng)的二維表面粗糙度和臺階高度測量，到更高級的三維表面成像和薄膜應(yīng)力測試，Dektak臺...

布魯克探針式表面輪廓儀（又稱“臺階儀"）歷今四十載，積累大量專有技術(shù)。從傳統(tǒng)的二維表面粗糙度和臺階高度測量，到更高級的三維表面成像和薄膜應(yīng)力測試，Dektak臺...

ContourGT-K 3D光學顯微鏡是表面輪廓儀功能和價值的標準。該系統(tǒng)具有各種2D / 3D測量，高分辨率成像和用戶友好的界面，該系統(tǒng)以緊湊的封裝和緊湊的占...

ContourX-500光學輪廓儀是用于快速，非接觸式3D表面度量的世界上全面的自動化臺式系統(tǒng)。該系統(tǒng)集成了布魯克專有的傾斜/傾斜光學頭，可以*編程，以在一定角...

ContourX-200光學輪廓儀將其特性，可自定義的選項以及易用性完美融合，可提供yi 流的快速，準確和可重復的非接觸式3D表面度量。

ContourX-100光學輪廓儀以佳的價格為準確和可重復的非接觸式表面計量樹立了新的*。小尺寸系統(tǒng)采用流線型封裝，可提供的2D / 3D高分辨率測量功能，

布魯克作為三維表面測量與觀察業(yè)界的ling dao者，提供從微觀如MEMS（微機電系統(tǒng)）到宏觀如發(fā)動機腔體等不同大小樣品的快說非接觸式分析。

Hys代ron® TS 77 Selec產(chǎn)自動臺式納米力學和納米摩擦測試系統(tǒng)提供了同級別儀器中高的測試性能，功能性和易用性?；Р剪斂酥腡ribo...

海思創(chuàng)TI 980 TriboIndenter納米壓痕儀是布魯克先進的納米力學測試設(shè)備，同時具有高的性能、靈活性、可信度、實用性和速度。Bruker納米力學和納...

海思創(chuàng)TI 950 TriboIndenter納米壓痕儀是布魯克一臺用于多種納米力學和納米摩擦學表征的自動化、高通量測試設(shè)備；納米力學測試設(shè)備 TI 950 T...

Bruker臺階儀Dektak XT也叫探針式表面輪廓儀（臺階儀）；實現(xiàn)了更高的重復性和分辨率，垂直高度重復性。實現(xiàn)了納米尺度的表面輪廓測量，在微電子、半導體、...